11. přednáška Měření drsnosti povrchu Metrologie 11. přednáška Měření drsnosti povrchu

Struktura povrchu Je členěna na jednotlivé složky podle rozteče příslušných nerovností. Norma ISO 4287 definuje tyto geometrické parametry: R – pro drsnost povrchu W – pro vlnitost povrchu P – pro základní profil Základní délka lr – délka ve směru osy x používaná pro rozpoznání nerovností charakterizující daný profil. Drsnost se hodnotí ve třech parametrech: výškové parametry délkové (šířkové) parametry tvarové parametry

Výškové parametry (výběr) Největší výška výstupku profilu Rp - výška Zp největšího výstupku profilu v rozsahu základní délky Největší hloubka prohlubně profilu Rv - hloubka Zv nejnižší prohlubně profilu Největší výška profilu Rz - součet výšky Zp největšího výstupku a hloubky Zv nejnižší prohlubně v rozsahu základní délky

Výškové parametry (výběr) Střední aritmetická úchylka profilu Ra – aritmetický průměr absolutních hodnot pořadnic Z(x) v rozsahu základní délky. Vypovídací schopnost parametru je nízká, Ra nereaguje citlivě na extrémní výšky hrotů profilu a hloubky rýh profilu.

Délkové (šířkové) parametry Průměrná vzdálenost prvků profilu RSm – průměrná hodnota šířek Xs prvků profilu v rozsahu základní délky.

Měření drsnosti povrchu pomocí dotykových profilometrů skládá se ze dvou částí - mechanická - elektronická 1 – měřená součást 2 – snímací hlavice s hrotem 3 – posuvový mechanismus 4 – zesilovač 5 – filtr 6 – registrační jednotka 7 – jednotka zprac. signál 8 – zobrazovací jednotka

Měření drsnosti povrchu porovnáváním s etalony drsnosti - metoda je založena na porovnávání povrchu buď okem nebo mikroskopem. Je velmi nepřesná a záleží na zkušenostech metrologa. Je nutné dodržet následující podmínky: materiál etalonu a součásti by měl stejný (alespoň barva) stejný tvar povrchu součásti a etalonu (vypuklý, plochý, apod.) povrch etalonu a součásti by měl být získán stejnou technologií obrábění stejné podmínky pozorování (světlo)

Měření drsnosti povrchu metodou světelného řezu - používá se dvojitého mikroskopu. Svazek paprsků (velmi tenký) dopadá na měřený povrch pod úhlem 45°. Odrazem od nerovností vzniká obraz profilu v poli mikroskopu.

Měření drsnosti povrchu s využitím interference světla - paprsek jde přes polopropustné zrcadlo a to jej rozdělí na dvě části. Část S1 jde dále na měřený povrch a zpátky do okuláru a druhá část S2 se odrazí od zrcadla přímo zpět do okuláru. Tam paprsky interferují (spojí se) a získáme obraz povrchu.

Děkuji za pozornost