Prezentace se nahrává, počkejte prosím

Prezentace se nahrává, počkejte prosím

Orbis pictus 21. století Tato prezentace byla vytvořena v rámci projektu.

Podobné prezentace


Prezentace na téma: "Orbis pictus 21. století Tato prezentace byla vytvořena v rámci projektu."— Transkript prezentace:

1 Orbis pictus 21. století Tato prezentace byla vytvořena v rámci projektu

2 Měření charakteristik polovodičových součástek OB21-OP-EL-ELKM-JANC-M OB21-OP-EL-ELKM-JANC-M-2-020

3 Měření statických charakteristik součástek   Polovodičové, ale i např. vakuové součástky, jsou obecně nelineární řízené prvky.   Významným popisem jejich vlastností jsou statické charakteristiky, které udávají vzájemnou závislost napětí a proudů na vývodech součástky, při čemž napětí nebo proudy na jiných vývodech jsou parametrem.   Předpokladem měření je, že se součástka chová jako elektricky nesetrvačná.

4 Měření charakteristik bod po bodu   Z hlediska náročnosti na přístrojové vybavení je nejjednodušší jejich měření bod po bodu. Obr. 1 Příklad zapojení pro měření voltampérové charakteristiky diody bod po bodu

5 Měření charakteristik bod po bodu   Pokud jde o dvojpóly, vystačíme s regulovatelným zdrojem napětí nebo proudu a měřicími přístroji pro měření napětí a proudu.   Při vlastním měření je třeba se rozhodnout, kterou veličinu budeme volit jako nezávisle proměnnou, jak zvolit zapojení, aby došlo k minimálnímu ovlivnění měřených charakteristik měřicími přístroji a dále zajistit, aby nedošlo k překročení mezních parametrů měřené součástky (napětí, proudu ale i výkonu).   Při měření některých součástek se záporným odporem je třeba zjišťovat, zda nedochází ke kmitům v obvodu, což může mít na měřenou charakteristiku zásadní vliv.

6 Měření charakteristik bod po bodu   Rychlost měření je poměrně malá, algoritmus měření je evidentní.   Je třeba vzít v úvahu, že během měření může dojít ke změně teploty (změna teploty okolí, ohřev procházejícím proudem) měřené součástky a tak měříme vlastně za jiných podmínek.   Základní zapojení pro měření voltampérové charakteristiky diody je na obr. 1.

7 Měření charakteristik bod po bodu Obr. 2 Zapojení pro měření soustavy výstupních charakteristik bipolárního tranzistoru bod po bodu

8 Měření charakteristik bod po bodu   Charakteristiky trojpólů (i vícepólů) jsou vyjádřeny sítí charakteristik.   Pro stanovení elektrických podmínek (parametrů) na dalších vývodech je třeba dalších zdrojů (napěťových či proudových) a přístroj pro měření této veličiny.   Postup se proti dvojpólům komplikuje o opakování.   Měří se bod po bodu při určitém nastavení parametru, pak se parametr změní a znovu se měří bod po bodu. Příkladem může být měření výstupních charakteristik bipolárního tranzistoru (viz obr. 2)

9 Měření charakteristik bod po bodu   Měření charakteristik prvků reaktančního typu ( např. kapacitní diody) je založeno na měření příslušné pasívní elektrické veličiny.   Musíme ovšem použít takovou metodu, která nezpůsobí posun bodu (např. napětí na diodě).   Přídavné harmonické napětí, které je nezbytně nutné pro měření např. kapacity, musí být podstatně menší, než napětí zdroje, které PN přechod polarizuje.   Některé měřiče pasivních veličin dovolují měnit jak polarizační napětí, tak i přídavné napětí, případně polarizační napětí zavádět z vnějšího zdroje.

10 Měření charakteristik bod po bodu Obr. 3 Zapojení pro měření charakteristiky kapacitní diody

11 Měření charakteristik bod po bodu   Příklad zapojení pro měření charakteristiky C(U) kapacitní diody je na obr. 3.   Metoda je založena na mostové metodě. Napětí ze zdroje harmonického signálu (napětí) musí být, jak uvedeno výše, poměrně malé.   Obdobně duálně lze měřit charakteristiky nelineárních induktorů. Tak zjistíme závislost L(I).   Protože řadu parametrů polovodičových součástek ovlivňuje okolní teplota, snažíme se uržovat během měření její teplotu konstantní (chlazením) a teplotu i měřit.

12  Děkuji za pozornost  Ing. Ladislav Jančařík

13 Literatura  E. Vitejček a V. Hos: Elektrické měření, SNTL Praha 1979  V. Fajt a kol.: Elektrická měření, SNTL Praha 1987  L. Bejček a kol.: Měření v elektrotechnice, FEKT VUT Brno 2003


Stáhnout ppt "Orbis pictus 21. století Tato prezentace byla vytvořena v rámci projektu."

Podobné prezentace


Reklamy Google