Měření doby úhlových korelací (ACAR) long slit geometrie zdroj e + + vzorek Pb stínění scintilační detektor scintilační detektor Pb stínění detektor
Měření doby úhlových korelací (ACAR) vodivostní e - core e -
Měření Dopplerovského rozšíření zdroj e + + vzorek HPGe detektor SCA spektroskopický zesilovač ADC A/D převodník pLpL pTpT p
Měření Dopplerovského rozšíření (DB) zdroj e + + vzorek spektroskopický zesilovač A/D převodník 207 Bi FWHM = 1.103(1) keV E (keV) counts annihilation peak FWHM = 2.580(3) keV E (keV) counts pLpL pTpT
Srovnání rozlišení DB ACAR ACAR neurčitost úhlu DB neurčitost úhlu
Měření Dopplerovského rozšíření – tvarové parametry S parametr volné e + e + zachycené v defektech referenční vzorek: S 0 0.5 normalizace: S / S 0 S - míra podílu anihilací e + s valenčními e - (malé E) nárůst koncentrace defektů nárůst S parametru
Měření Dopplerovského rozšíření – tvarové parametry t r
Srovnání s mikrotvrdostí t r
Měření Dopplerovského rozšíření – tvarové parametry W parametr volné e + e + zachycené v defektech referenční vzorek: W 0 0.03 normalizace: W / W 0 W - míra podílu anihilací e + s core e - (velké E) nárůst koncentrace defektů pokles W parametru
Měření Dopplerovského rozšíření – S-W plot HPT Cu saturovaný záchyt dva typy defektů: - dislokace - shluky vakancí shluky vakancí dislokace
Měření Dopplerovského rozšíření – S-W plot Mg film (600 nm) na Si (100) substrátu M – počet vrstev povrch Mg vrstva Si substrát N l – počet typů defektů v l-té vrstvě MgSi (100)
Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) Technical University Delft
Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) Technical University Delft
Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) mapování k-prostoru Ni 2 MnGa [100][110]
Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) rekonstrukce Fermiho plochy Ni 2 MnGa experiment výpočet