Prezentace se nahrává, počkejte prosím

Prezentace se nahrává, počkejte prosím

Měření doby úhlových korelací (ACAR) long slit geometrie zdroj e + + vzorek Pb stínění scintilační detektor scintilační detektor Pb stínění detektor 

Podobné prezentace


Prezentace na téma: "Měření doby úhlových korelací (ACAR) long slit geometrie zdroj e + + vzorek Pb stínění scintilační detektor scintilační detektor Pb stínění detektor "— Transkript prezentace:

1 Měření doby úhlových korelací (ACAR) long slit geometrie zdroj e + + vzorek Pb stínění scintilační detektor scintilační detektor Pb stínění detektor 

2 Měření doby úhlových korelací (ACAR) vodivostní e - core e -

3 Měření Dopplerovského rozšíření zdroj e + + vzorek HPGe detektor SCA spektroskopický zesilovač ADC A/D převodník pLpL pTpT p

4 Měření Dopplerovského rozšíření (DB) zdroj e + + vzorek spektroskopický zesilovač A/D převodník 207 Bi FWHM = 1.103(1) keV E (keV) 550560570580590 counts 1 10 100 1000 10000 annihilation peak FWHM = 2.580(3) keV E (keV) 490500510520530 counts 1 10 100 1000 10000 pLpL pTpT

5 Srovnání rozlišení DB  ACAR ACAR neurčitost úhlu DB neurčitost úhlu

6 Měření Dopplerovského rozšíření – tvarové parametry S parametr volné e + e + zachycené v defektech referenční vzorek: S 0  0.5 normalizace: S / S 0 S - míra podílu anihilací e + s valenčními e - (malé  E) nárůst koncentrace defektů  nárůst S parametru

7 Měření Dopplerovského rozšíření – tvarové parametry t r

8 Srovnání s mikrotvrdostí t r

9 Měření Dopplerovského rozšíření – tvarové parametry W parametr volné e + e + zachycené v defektech referenční vzorek: W 0  0.03 normalizace: W / W 0 W - míra podílu anihilací e + s core e - (velké  E) nárůst koncentrace defektů  pokles W parametru

10 Měření Dopplerovského rozšíření – S-W plot HPT Cu saturovaný záchyt dva typy defektů: - dislokace - shluky vakancí shluky vakancí dislokace

11 Měření Dopplerovského rozšíření – S-W plot Mg film (600 nm) na Si (100) substrátu M – počet vrstev povrch Mg vrstva Si substrát N l – počet typů defektů v l-té vrstvě MgSi (100)

12 Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) Technical University Delft

13 Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) Technical University Delft

14 Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) mapování k-prostoru Ni 2 MnGa [100][110]

15 Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) rekonstrukce Fermiho plochy Ni 2 MnGa experiment výpočet


Stáhnout ppt "Měření doby úhlových korelací (ACAR) long slit geometrie zdroj e + + vzorek Pb stínění scintilační detektor scintilační detektor Pb stínění detektor "

Podobné prezentace


Reklamy Google