Analýza dat z pixelových detektorů ozářených svazky částic Magdaléna Bazalová Vedoucí práce: Václav Vrba Fyzikální ústav, AV ČR.

Prezentace na téma: "Analýza dat z pixelových detektorů ozářených svazky částic Magdaléna Bazalová Vedoucí práce: Václav Vrba Fyzikální ústav, AV ČR."— Transkript prezentace:

1 Analýza dat z pixelových detektorů ozářených svazky částic Magdaléna Bazalová Vedoucí práce: Václav Vrba Fyzikální ústav, AV ČR

2 Testbeam – CERN SPS: pionový svazek 180 GeV/c

3 Telescope schematický nákres fotografie z haly

4 Mini chip Single chip Guardring Oxid test structure Tiles Pixels

5 Geometrie modulu a chipu 50 µm  160 řádků 400 µm  18 sloupců 1 module 1 chip Wafer CIS Wafer TESLA

6 Rozměry senzoru

7 Zapisování měření

8 Zpracování dat  Linux  Program h8 – Clara Troncon  PAW++ : Physics Analysis Workstation  TESLA h8: nastavení parametrů – magnetické pole, orientace pixelů, typ připojení elektroniky, úhel natočení maskovací soubory – stripové i pixelové detektory kalibrační soubory Výsledkem zpracování je řada hodnot pro jednotlivé eventy, např. xepo, xepi, yepo, yepi, nclu, nphit…

9 Průběh analýzy  Zamaskování špatných stripů na všech deterktorech  Zamaskování šumových pixelů  Sesazení všech stripových detektorů a pixelového  Vytvoření ntuplů – z nich je možno pokračovat v analýze zkoumaného pixelového detektoru

10 X- S T R I P Y X- S T R I P Y

11 X- S T R I P Y X- S T R I P Y

12 Y- S T R I P Y Y- S T R I P Y

13 Profil svazku Chip 4 celý modul jen ozářený chip – lego plot

14 Rozložení směru částic ve svazku pion osa svazku Stripové detektory Θ φ x y z pion

15 Clusterovací mechanismus 3 pixelový cluster 2 pixelový cluster 1 event

16 Amplituda pulsu  Zjišťuje se pomocí Time over Treshold (ToT): t Δt 1 A treshold Δt 2 Δt 2 > Δt 2  A 2 > A 1 1-hitový cluster  maximum leží mezi 10 a 20 Ke -

17 Amplituda pulsu (2-hit) 2-hitový cluster, jen první hit, maxima z obou pixelů 2-hitový cluster, oba hity součet amlitud 1- i 2-hitových clusterů + 1-hitové

18 Účinnost sběru náboje v pixelu bias grid Snížení účinnosti sběru náboje v oblasti bias grid CHIP 5

19 Rozlišení Velikost rozlišení v kratším směru σ y = 14,4 μm v delším směru σ x = 115,5 μm Δ Δ x = 400μm Δ y = 50μm Při analýze se rozlišení počítá z rozdílu extrapolovaných souřadnic od stripů a zasáhlých pixelů: x res = x ext - x pix

20 Rozlišení 1-hitový cluster: σ y =14,4 μm σ x =115,5 μm 2 -hitový cluster: σ y  7 μm všechny clustery σ y =13,3 μm σ y =7,9 μm σ y =12,9 μm

21 Závěr  Senzory z TESLY Rožnov jsou stejně dobré jako z CIS (Německo)  Chovají se tak, jak se čekalo  Je třeba zjistit, jaké vlastnosti mají ozářené senzory  Po zapojení magnetického pole určit Lorentzův úhel