Světelná technika Fotometrie.

Slides:



Advertisements
Podobné prezentace
Odraz světla na rozhraní dvou optických prostředí
Advertisements

Elektrotechnická měření Výpočet umělého osvětlení - Wils
Autor: Boleslav Staněk H2IGE1. -Síť splňující konkrétní konfigurační a kvalitativní požadavky daného inženýrského či jiného projektu. -Důvody vzniku účelové.
=NAUKA O SVĚTLE A JEHO VLASTNOSTECH
Světlo se po dopadu na jiné optické prostředí
Zobrazení rovinným zrcadlem
Optické odečítací pomůcky, měrení délek
19. Zobrazování optickými soustavami
BODOVÁ METODA VÝPOČTU OSVĚTLENOSTI
OPTIKA.
Elektroenergetika 3 Obsah části Elektrické světlo A1B15EN3
OPTIKA II.
Paprsková optika Světlo jako elektromagnetické vlnění
Odraz světla na rovinném zrcadle
SVĚTELNÉ POLE = část prostoru, ve které probíhá přenos světelné energie Prokazatelně, tj. výpočtem nebo měřením některé světelně technické veličiny,
Zákon odrazu, zrcadla Autor: Mgr. Eliška Vokáčová
Odraz světla. Zákon odrazu světla
MĚŘENÍ S ANALOGOVÝMI MĚŘICÍMI PŘÍSTROJI
CZ.1.07/1.4.00/ VY_32_INOVACE_601_F7 Výukový materiál zpracovaný v rámci projektu Vzdělávací oblast: Člověk a příroda Předmět: Fyzika Ročník: 7.
Název a adresa školy: Střední odborné učiliště stavební, Opava, příspěvková organizace, Boženy Němcové 22/2309, Opava Název operačního programu:OP.
Co jsou ekvipotenciální plochy
SVĚTELNÉ POLE = část prostoru, ve které probíhá přenos světelné energie Prokazatelně, tj. výpočtem nebo měřením některé světelně technické veličiny,
ODRAZ SVĚTLA (zákon odrazu světla, periskop)
Paprsková optika hanah.
Měření světelně technických veličin
Počítačová grafika III Světlo, Radiometrie – Cvičení Jaroslav Křivánek, MFF UK
Sabina Mikulecká Anna Hejlová
Mgr. Ivana Pechová Mimimum fotografa Mgr. Ivana Pechová
S VĚTELNÉ JEVY. S VĚTELNÉ ZDROJE Vidíme jen ty předměty, ze kterých přichází do našeho oka světlo. Světelné zdroje – světlo vyzařují (Slunce, žárovka)
Měření úhlů.
POSTUP NÁVRHU OSVĚTLOVACÍ SOUSTAVY
Název a adresa školy: Střední odborné učiliště stavební, Opava, příspěvková organizace, Boženy Němcové 22/2309, Opava Název operačního programu:
Ústav technických zařízení budov MĚŘENÍ A REGULACE Ing. Václav Rada, CSc. ZS – 2003/
38. Optika – úvod a geometrická optika I
ČÁSTI ANALOGOVÝCH MĚŘICÍCH PŘÍSTROJŮ
ELEKTROTECHNICKÁ MĚŘENÍ
III/ Tento digitální učební materiál (DUM) vznikl na základě řešení projektu OPVK, registrační číslo CZ.1.07/1.5.00/ s názvem „Výuka na.
CZ.1.07/1.4.00/ VY_32_INOVACE_608_F7 Výukový materiál zpracovaný v rámci projektu Vzdělávací oblast: Člověk a příroda Předmět: Fyzika Ročník: 7.
Fotoelektrický jev Fotoelektrický jev byl poprvé popsán v roce 1887 Heinrichem Hertzem. Pozoroval z pohledu tehdejší fyziky nevysvětlitelné chování elektromagnetického.
Světlo - - veličiny, jednotky
Fotočlánky Fotoelektrický jev byl poprvé popsán v roce 1887 Heinrichem Hertzem. Pozoroval z pohledu tehdejší fyziky nevysvětlitelné chování elektromagnetického.
Denzitometrie Reflexní fotometrie
Název materiálu: VY_32_INOVACE_07_GEODETICKÉ PRÁCE NA STAVBÁCH 2_Z1
ABY NAŠE OČI NETRPĚLY, JE TŘEBA, ABYCHOM TRÁVILI SVŮJ ČAS V PROSTŘEDÍ, KTERÉ JE VHODNĚ OSVĚTLENÉ. OSVĚTLENÍ JEDNOTLIVÝCH PROSTOR SE ŘÍDÍ TĚMITO NORMAMI:
pokusně určí rozdíl mezi dutým a vypuklým zrcadlem dokáže uvést příklad jejich využití v praxi Zrcadla Zpracovala: ing. Alena Pawerová.
C6200-Biochemické metody 08D_zákalové metody Petr Zbořil.
Světlo a osvětlení Mgr. Aleš Peřina, Ph. D.. Jednotky světla a osvětlení Elektromagnetické vlnění o vlnové délce 400 až 720 nm – Ultrafilaové → gama záření.
ODRAZ SVĚTLA NA ZRCADLE Tato práce je šířena pod licencí CC BY-SA 3.0. Odkazy a citace jsou platné k datu vytvoření této práce. VY_32_INOVACE_09_32.
Kulová zrcadla. vyleštěná kovová plocha zrcadla má tvar části kulové plochy 1.duté zrcadlo: - světlo se odráží od části vnitřního povrchu kulové plochy.
O DRAZ SVĚTLA Ing. Jan Havel. Gymnázium a Jazyková škola s právem státní jazykové zkoušky Svitavy Materiál je určen pro bezplatné používání pro potřeby.
Aplikovaná optika I: příklady k procvičení celku Geometrická optika
CHARAKTERISTIKY PROSTOROVÝCH VLASTNOSTÍ OSVĚTLENÍ
Financováno z ESF a státního rozpočtu ČR.
Základy elektrotechniky Elektromagnetická indukce
MNOHONÁSOBNÉ ODRAZY 1. Činitel vazby 12 svíticí plochy 1 s osvětlovanou plochou 2 2. Činitel vlastní vazby 11 vnitřního povrchu duté plochy 3.
SVĚTLOMĚRNÉ PŘÍSTROJE
Senzory pro EZS.
ELEKTRICKÉ MĚŘENÍ VLASTNOSTI MĚŘICÍCH PŘÍSTROJŮ.
Zobrazení předmětu rovinným zrcadlem Vypracoval: Lukáš Karlík
FVE.
Využití ICT pro rozvoj klíčových kompetencí CZ.1.07/1.5.00/
METODICKÝ LIST PRO ZŠ Pro zpracování vzdělávacích materiálů (VM)v rámci projektu EU peníze školám Operační program Vzdělávání pro konkurenceschopnost   
Název školy Základní škola Šumvald, okres Olomouc Číslo projektu
Světlo Jan Rambousek jp7nz-JMInM.
CHARAKTERISTIKY PROSTOROVÝCH VLASTNOSTÍ OSVĚTLENÍ
Speciální metody Petr Zbořil.
Světelná technika Fotometrie.
Elektrotechnická měření Výpočet umělého osvětlení - Wils
Třída 3.B 3. hodina.
FOTOMETRICKÉ VELIČINY
Transkript prezentace:

Světelná technika Fotometrie

Úvod Fotometrie je měření světelně technických veličin. Co je fotometrie ? Fotometrie je měření světelně technických veličin. Rozdělení metod měření: * vizuální (subjektivní - zrak) metody * fyzikální (objektivní - přístroje) metody Přesnost měření je dána měřícími přístroji. Přístroje pro orientační měření mají přesnost (14 - 20)%, běžné provozní přístroje (8 – 14)%, přesné laboratorní přístroje okolo 8%. Pro přesná měření musí být k dispozici etalony (speciální žárovky) s požadavkem pravidelného ověřování. Zásady pro měření jsou uvedeny v normě ČSN.

Podmínky pro měření Základní druhy měření: 1. Měření nesmí být ovlivněna rozptýleným světlem. 2. Optické části přístrojů musí být čisté. 3. Vzdálenost přístroje od zdroje musí být dostatečná (nejméně 10 x větší, než je velikost zdroje). 4. Před měřením musí být zdroj ve stabilním stavu – dostatečný čas pro konstantní světelný tok * žárovky 5 minut * výbojky 20 minut Základní druhy měření: * Měření osvětlení * Měření jasů

Měření osvětlenosti Pro měření osvětlenosti se používá luxmetr. Rozdělení přesnosti podle mezinárodních norem: L - laboratorní přístroje celková chyba je ± 3% A - přesné celková chyba je ± 5% B - provozní celková chyba je ± 10% C - orientační celková chyba je ± 20% Zpravidla se kontrolují hodnoty osvětlenosti v bodech srovnávací nebo pracovní roviny. * vnitřní prostory nejčastěji vodorovná plocha ve výšce 85 cm Základem pro měření je vždy pracovní rovina (tabule – vertikální plocha, …) * venkovní prostory maximálně 20 cm nad povrchem terénu Před měřením musí světelný zdroj odsvítit určitý počet hodin a vlastní měření provádět po určité době po rozsvícení. Žárovky - minimálně 6 hodin přibližně 20 minut Výbojky - minimálně 100 hodin několik minut

Princip luxmetru Si * Na železné (hliníkové) základní desce je nanesena vrstva polovodiče (dříve selen, dnes křemík). * Polovodičová vrstva je pokryta průsvitnou vodivou vrstvou (platina, stříbro nebo zlato). * Po obvodu je sběrný kroužek Princip: Po ozáření se vytvoří mezi křemíkem a vrchní vrstvou rozdíl potenciálů, sběrným kroužkem začne procházet proud, který se měří prostřednictvím galvanoměru.

Princip luxmetru Základní podmínka pro přesné měření: Řešení: Křivka spektrální citlivosti přístroje má být shodná jako u lidského oka (křivka spektrální citlivosti normálního pozorovatele). Není-li tato podmínka splněna, lze měřit pouze stejný světelný zdroj, na který je luxmetr cejchován. V opačném případě vzniká velká chyba: u žárovek zhruba 5% u výbojek až 50% V () - lidské oko Se - nekorigovaný článek Se Se(k) - korigovaný článek Se Si - nekorigovaný článek Si Řešení: * přepočítávací činitel * filtry (běžné u dnešních luxmetrů)

Princip luxmetru Závislost velikosti proudu na světelném toku – I=f(): Závislost není lineární. U selenový luxmetrů byl požadavek na celkový odpor R  100 , u křemíkových stačí odpor R  500 . Moderní křemíkové luxmetry mikroampérmetry s vnitřním odporem do 100 , navíc mají zesilovače a kompenzaci  závislost I=f() je lineární Závislost I=f() u selenových luxmetrů

E = (I/l2) * cos  = k * cos  (lx;cd,m) Kosinusový nástavec Fotočlánky se cejchují na kolmý dopad světla. Při šikmém dopadu při konstantní svítivosti zdroje a stejné vzdálenosti zdroje od místa měření je osvětlenost úměrný cos  (úhel dopadu). E = (I/l2) * cos  = k * cos  (lx;cd,m) kde I … svítivost zdroje v daném směru l … vzdálenost světelného zdroje Pro úhel dopady   300 lineární závislost přestává plazit a vzniká značná chyba. Proto se používá kosinusový nástavec. Kulový vrchlík z rozptýleného skla Chyba měření: 1. bez nástavce 2. s nástavcem Fotočlánek

Měření svítivosti I = E * l2 Princip – porovnání jasů Svítivost se neměří přímo, ale převádí se na měření osvětlenosti (objektivní metoda) I = E * l2 nebo jasu (subjektivní metoda – pozorovatel porovnává jasy). Měření probíhá na fotometrické lavici. etalon (normál) trojboký hranol zkoušený zdroj Princip – porovnání jasů Je-li stejný jas platí:

Fotometrická lavice

Měření křivek svítivosti Křivky svítivosti se měří pomocí goniofotometru, který umožňuje měřit svítivost v různých rovinách a pod různými úhly (v souladu s normami EU po 20). Rozdělení: * otočný zdroj, pevný fotometr (nevhodné, svítivost závisí na poloze světelného zdroje) * pevný zdroj, otočný fotometr * pevný zdroj i fotometr, otočný zrcadlový systém (náročné požadavky na zrcadlový systém) pevný zdroj i fotometr, otočný zrcadlový systém pevný zdroj, otočný fotometr

pevný zdroj, otočný fotometr pevný zdroj i fotometr, otočný zrcadlový systém

Měření světelného toku Světelný tok lze určit: * graficko početní metodou – pro výpočet se využijí křivky svítivosti * přímé měření v integrátoru s použitím normálu světelného toku Kulový integrátor * na vnitřní straně je bílý rozptylný nátěr * při rozsvícení světla dochází k mnohočetným odrazům, odražené světlo dopadá i na fotočlánek K – korekční zdroj + clona – v případě, že součástí měřeného zdroje nosné části, které pohlcují světlo měřeného zdroje Z – zdroj je umístěn přibližně ve středu koule C1 – clona zabraňující přímému dopadu světla ze zdroje F – okénko s fotočlánkem

Kulový integrátor

Princip objektivního jasoměru Měření jasu K měření se používá jasoměr s přesností měření od (7,5 do 15) % Princip objektivního jasoměru F - fotonka C - clona T - tubus G - galvanoměr Princip měření: Na fotonku dopadají paprsky z měřené plochy, které jsou vymezeny prostorovým úhlem . Fotočlánek změří osvětlenost – E Hodnota jasu sledované plochy se určí L = E/ (cd*m-2; LX, sr) Při měření je třeba dbát na to, aby zabíraná plocha byla stejná jako měření plocha. Podle velikosti plochy se použije clona s daným průměrem. Rozdělení jasoměrů: bodové (pro malé plochy) integrační (pro větší plochy)

Ukázka jasoměru