Autoři: Supervizor: Ing.Jan Adámek Tomáš Odstrčil Jaroslav Petr

Slides:



Advertisements
Podobné prezentace
Přednáška 2 Analytické metody používané v nanotechnologiích
Advertisements

ÚSTAV MATERIÁLOVÉHO INŽENÝRSTVÍ
Atomová absorbční spektroskopie
Fyzika mikrosvěta rozměry mikrosvěta, rasrtový elektronový (iontový) mikroskop Jan Andrle 3. B.
Fyzikální týden 2002 na FJFI ČVUT v Praze
Pevnolátkové lasery Jan Berka1, Július Horváth2, Jan Kraček3
Tento Digitální učební materiál vznikl díky finanční podpoře EU- OP Vzdělávání pro konkurenceschopnost. Není –li uvedeno jinak, je tento materiál zpracován.
Infračervená sektrometrie s Fourierovou transformací
Jiří Švancara Marek Kovář Tomáš Peták Gymnázium Karla Sladkovského
Měření a analýza tepelné kapacity YPd 5 Al 2 a NdPd 5 Al 2 Martin Duřt Milan Ročeň Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti.
Využití ionizujícího záření při měření vlastností materiálů.
Zákon zachování hmotnosti Mgr. Helena Roubalová
Mikroskopické techniky
supervisor: Marie Svobodová
Fyztyd 2004 Mlžná komora, když máte zamlženo… Jan Brychta, Gymnázium Jihlava Jan Hoffmann, Gymnázium Praha 6 Jan Chylík, Gymnázium Horní Počernice Jan.
N. Hlaváčová, Gymnázium Olomouc, Čajkovského 9 P. Vanický, Gymnázium Broumov.
Jak chránit DNA před zářením
Zlatokop Zkrachovalec & spol.
Využití radionuklidové rentgenfluorescenční analýzy při studiu památek
Rentgenová fluorescenční analýza Ráchel Sgallová Školitel Tomáš Trojek Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti.
Mikrovlny - chování mikrovlnného elektromagnetického záření
Kdy hrozí, že už koule bude kritická
Skutečně vaše sluneční brýle nepropouští UV záření?
Rentgenfluorescenční analýza Barbora Vlková Pavel Čupr supervisor: Ing. Tomáš Trojek, Phd.
Leeuwenhoekův mikroskop
Mikrostruktura W pseudoslitin pro extrémní aplikace David Heralecký Daniel Švarc Jan Vokoun.
Únavové poruchy letadel – řádkovací elektronová mikroskopie
Využití moderních laboratorních metod v metalografii a fraktografii
Graf předpokládaného růstu spotřeby elektrické energie ve světě
Spektrometrie záření gama Autoři: K. Procházková, J. Grepl, J. Michelfeit, P. Svačina.
Mikroskopie v materiálovém výzkumu
Stanovení délky a útlumu optického vlákna metodou optické reflektometrie Týden vědy 2015 J. Baran a J. Povolný.
Spektrometrie gama záření
M. Cetkovský, Gymnázium Zlín, V. Cupal, Gymnázium Jeseník, M. Raja, Gymnázium Hostinné, E. Šoltísová,
Millikanův pokus Michal Jex, gym. Jaroslava Heyrovského, Praha
confocal laser scanning microscope (CLSM)
K. Vaněk, N. Machátová Týden vědy Dávka – absorbovaná energie v látce Integrální chemický dozimetr Frickeho gelový dozimetr Radiochromický gelový.
Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2
Od difrakce a interference světla k holografii a difraktivní optice
Orbis pictus 21. století Tato prezentace byla vytvořena v rámci projektu.
Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů
RTG fázová analýza Tomáš Jirman, Michal Pokorný
Výpočet plochy obrazců
Identifikace neznámého zářiče použitím gama spektroskopie
Mikroskopie a lokální elektronová mikroanalýza v materiálovém výzkumu
Měření transmise optických a laserových materiálů Irena Havlová Štěpánka Mohylová Lukáš Severa Vladimír Sirotek.
Helena Brandejská Josef Novák Michal Unzeitig Supervisor: Ing. Petr Průša Týden vědy na Jaderce Rentgenfluoresenční analýza, pomocník nejen při zkoumání.
Mikroskopie v materiálovém výzkumu
M. Brablc M. Michl A. Mrkvička L. Těsnohlídková
Číslo projektuCZ.1.07/1.5.00/ Název školyGymnázium, Soběslav, Dr. Edvarda Beneše 449/II Kód materiáluVY_32_INOVACE_41_01 Název materiáluMolekuly.
Fyzikálně chemické analýza A. Dufka  Chemická analýza  Diferenční termická analýza (DTA)  Stanovení pH betonu ve výluhu  Rentgenová difrakční analýza.
ZKOUŠENÍ MATERIÁLU Defektoskopie a technologické zkoušky.
Základy metalografie - příprava vzorku
Jak se dívat do buněk Milan Dundr.
Fyzika kondenzovaného stavu
Fyzika kondenzovaného stavu
confocal laser scanning microscope (CLSM)
Počítačová grafika: pohled pod pokličku
Mikroskopie a lokální elektronová mikroanalýza v materiálovém výzkumu
RTG fázová analýza Radomír Benk Petr Gallus Pavel Solný Vít Hubka
Únavové poruchy letadel
Karel Jára Barbora Máková
Únavové poruchy letadel
Gama záření z přírodních zdrojů
ATOM A MOLEKULA PRVEK A SLOUČENINA.
Rentgenfluorescenční analýza
Mikroskopie v materiálovém výzkumu
K čemu vede rozladění laserového rezonátoru?
4.2 Které látky jsou chemické prvky?
Studium rentgenového spektra Cu anody
Transkript prezentace:

Autoři: Supervizor: Ing.Jan Adámek Tomáš Odstrčil Jaroslav Petr Bernard Rampáček Supervizor: Ing.Jan Adámek

Úkol: Zdokumentovat mikrostrukturu vzorku z vysokopevnostního šroubu a litinové desky

Prostředky Optická mikroskopie Elektronová řádkovací mikroskopie Metalografický mikroskop Neophot 32 + kamera Olympus Elektronová řádkovací mikroskopie JEOL 5510LV + energiově disperzní analizátor IXRF 500

Schéma optického mikroskopu 1. sbíhavé čočky 2. sbíhavé čočky

Úprava vzorků Zapuštění vzorku do pryskyřice Vybroušení Vyleštění Vyleptání směsí ethanolu s HNO3 Zasazení do mikroskopu

Schéma elektronového mikroskopu

Srovnání optického a elektronového mikroskop

Optický

Energiově disperzní analyzátor IXRF Zachytává a analyzuje RTG záření Umožňuje zjistit rozložení prvků ve vzorku Slouží orientačnímu určení složení

Mn S Fe

Poděkování Ing. Adámkovi FJFI ČVUT